欢迎浏览瀚宇藤奇科技有限公司官方网站

PRODUCTS

产品方案

DSC-E3WG
产品简介
测定项目
系统规格

DSC-E3WG Wafer Series

鏡頭檢測儀 Waveguide Image Quality Tester

以光波導光學元件之MTF檢測為應用之產品。

具有速度快、精度高、重現佳、價格合理等特點,並可與業界標準合致。


應用產品

Wafer適用多組料盤式與 8吋晶圓樣品。


特點

✔ 單一機台可支援穿透及反射模式波導。

✔ 支援 8” wafer或料盤作量產測試

✔ 可支援 R、G、B 三個分別獨立 Channel MTF 測試,波長可指定客製。